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Caracterizacion Y Metrologia
Mauricio López
CENAM
mauricio.lopez@cenam.mx
Sergio López
CENAM
slopez@cenam.mx
La caracterización de materiales es uno de los pilares que sostiene el auge en el desarrollo de nuevas tecnologías y nuevos materiales. En virtud de que muchas de estas nuevas tecnologías están basadas en propiedades de superficie de sólidos, las técnicas de estudio de superficies cumplen un papel primordial en la Ciencia de Materiales.
Además de las propiedades básicas como estructura, morfología, textura, color o propiedades mecánicas, cobran gran importancia en esta revolución tecnológica las propiedades electrónicas, fotoelectrónicas y las propiedades químicas de las superficies, las que han llevado a la invención de sensores, dispositivos electrónicos de orden nanométrico, de superficies antibacteriales, fotocrómicas, magnéticas o autolimpiables.
En la Sesión de Caracterización se invita a participar con trabajos en cualquiera de las áreas de materiales en que el estudio de las propiedades de superficie sea fundamental, ya sea que se trate de utilizar Microscopia de Fuerza Atómica, Espectroscopía Fotoelectrónica de Rayos X, Microscopía Electrónica de Barrido, Termodesorción Programada de moléculas sonda u otras técnicas para el estudio de propiedades de superficies, o bien de describir resultados obtenidos en la síntesis y caracterización superficies de interés como películas de alta dureza, magnéticas, optoelectrónicas, fotocatalíticas, sensores entre otras.
En este marco de efervescencia tecnológica, la presencia de Metrología es obligada, ya que por ejemplo, al avanzar la tecnología hacia productos basados en materiales nanoestructurados, la incertidumbre y la exactitud de las mediciones pasan a un primer plano en importancia. Las unidades utilizadas para caracterizar estos nuevos materiales son del orden nanométrico y debe evitarse que las fuentes de error en las mediciones lleguen a ser tan grandes que impidan el estudio de estos materiales, así que trazabilidad, precisión e incertidumbre deben ser ya términos de uso común entre los investigadores de la ciencia de superficies.
La Sesión de Caracterización y Metrología permitirá enriquecer la visión de los asistentes al atender un evento multidisciplinario que permite ver a través de la óptica de los diferentes participantes, un mismo tema como es el estudio de las propiedades de superficie de los materiales.
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XXIX Annual Meeting